Pracownia Badań Materiałów dla kierunku Zaawansowane Materiały i Nanotechnologie (P27)

OPIS PRACOWNI

Pracownia Badań Materiałów na Kierunku Zaawansowane Materiały i Nanotechnologie jest zlokalizowana na Wydziale Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej UJ. Prowadzi się tu prace badawcze oraz zajęcia dydaktyczne związane z badaniami właściwości fizycznych różnych materiałów organicznych, w szczególności ciekłych kryształów liotropowych oraz termotropowych, włączając w to ferro- i antyferroelektryczne ciekłe kryształy. W ramach zajęć dydaktycznych, prac magisterskich i doktorskich prowadzone są badania w zakresie fizyki, biofizyki, jak i zaawansowanych materiałów. Prace skupiają się głównie na podstawowych właściwościach fizycznych miękkiej materii, a także możliwościach potencjalnego zastosowania badanych materiałów w wyświetlaczach ciekłokrystalicznych (LCD).
Pracownicy dydaktyczno-naukowi Pracowni Badań Materiałów na Kierunku Zaawansowane Materiały i Nanotechnologie (1 profesor, 5 doktorów habilitowanych, 4 doktorów) prowadzą zajęcia dydaktyczne w ramach:

  • panelu Pracownia Badań Materiałów (kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I i II stopień studiów),
  • kursu Zaawansowane materiały (kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I i II stopień studiów)
  • prac licencjackich (kierunek: fizyka, I stopień studiów),
  • prac licencjackich (kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I stopień studiów),
  • projektów specjalizacyjnych i prac magisterskich (kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, II stopień studiów),
  • prac magisterskich (kierunek: fizyka, II stopień studiów)
  • prac doktorskich (kierunek: inżynieria materiałowa, kierunek: biofizyka, III stopień studiów).

Przykładowe miejsca zatrudnienia absolwentów prowadzących swe prace w Pracowni to: instytucje naukowo-badawcze i naukowo-edukacyjne, ośrodki badawczo-rozwojowe i diagnostyczne w przemyśle, przedsiębiorstwa działające w sektorze zaawansowanych materiałów i nanotechnologii oraz instytucje zajmujące się upowszechnianiem wiedzy z tego zakresu.

APARATURA ZAKUPIONA W RAMACH PROJEKTU

L.p.

Nazwa
aparatu

Krótki
opis techniczny

Zdjęcie

1

Mikroskop polaryzacyjny wraz ze stolikiem obrotowym i tubusem do fotografii

Mikroskop ze stołem obrotowym skonstruowany wg wszelkich wymagań petrografii: nasadka okularowa z soczewkami Bertranda do obserwacji figur konoskopowych, tuba z analizatorem wyskalowana do pomiarów kątów polaryzacyjnych. Wbudowany statyw obrotowy, wyskalowany polaryzator, filtry wybielający i szary, okulary szerokokątne.

 

2

Mikrowaga

Elektroniczna waga analityczna o parametrach: nośność maksymalna min. 100g, odczyt 0.01 mg. Adiustacja wewnętrzna oraz adiustacja  automatyczna, możliwość zabezpieczenia hasłem dla kilku użytkowników.

 

3

Analizator impedancji

Analizator umożliwiający pomiar m.in.: pojemności, tangensa kąta strat, przewodnictwa, indukcyjności, oporu; o parametrach: zakres częstości 20 Hz ÷ 2 MHz, wbudowane pole podkładu co najmniej: 1.5 i 2V, napięcie mierzące: 0.1mVrms÷ 10Vrms, wejście USB do zapisywania danych.

 

 

ZAJĘCIA DYDAKTYCZNE PROWADZONE Z WYKORZYSTANIEM ZAKUPIONEJ APARATURY

L.p.

Nazwa
aparatu

Nazwa
i kod kursu

Kierunek
i rok studiów

1

Mikroskop polaryzacyjny wraz ze stolikiem obrotowym i tubusem do fotografii

Pracownia Badań Materiałów I,
WFAIS.IF-IM027.1

kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I stopień studiów, II rok

2

Mikrowaga

Pracownia Badań Materiałów II,
WFAIS.IF-IM027.2

kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I stopień studiów, III rok

3

Analizator impedancji

Pracownia Badań Materiałów I,
WFAIS.IF-IM027.1

kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I stopień studiów, II rok

II Pracownia Fizyczna cz. 1,
WFAIS.IF-D007.1

kierunek: fizyka, I stopień studiów, III rok

II Pracownia Fizyczna cz. 2,
WFAIS.IF-D007.2

kierunek: fizyka, I stopień studiów, III rok