Pracownia Badań Materiałów dla kierunku Zaawansowane Materiały i Nanotechnologie (P27)
OPIS PRACOWNI
Pracownia Badań Materiałów na Kierunku Zaawansowane Materiały i Nanotechnologie jest zlokalizowana na Wydziale Fizyki, Astronomii i Informatyki Stosowanej UJ. Prowadzi się tu prace badawcze oraz zajęcia dydaktyczne związane z badaniami właściwości fizycznych różnych materiałów organicznych, w szczególności ciekłych kryształów liotropowych oraz termotropowych, włączając w to ferro- i antyferroelektryczne ciekłe kryształy. W ramach zajęć dydaktycznych, prac magisterskich i doktorskich prowadzone są badania w zakresie fizyki, biofizyki, jak i zaawansowanych materiałów. Prace skupiają się głównie na podstawowych właściwościach fizycznych miękkiej materii, a także możliwościach potencjalnego zastosowania badanych materiałów w wyświetlaczach ciekłokrystalicznych (LCD).
Pracownicy dydaktyczno-naukowi Pracowni Badań Materiałów na Kierunku Zaawansowane Materiały i Nanotechnologie (1 profesor, 5 doktorów habilitowanych, 4 doktorów) prowadzą zajęcia dydaktyczne w ramach:
- panelu Pracownia Badań Materiałów (kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I i II stopień studiów),
- kursu Zaawansowane materiały (kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I i II stopień studiów)
- prac licencjackich (kierunek: fizyka, I stopień studiów),
- prac licencjackich (kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I stopień studiów),
- projektów specjalizacyjnych i prac magisterskich (kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, II stopień studiów),
- prac magisterskich (kierunek: fizyka, II stopień studiów)
- prac doktorskich (kierunek: inżynieria materiałowa, kierunek: biofizyka, III stopień studiów).
Przykładowe miejsca zatrudnienia absolwentów prowadzących swe prace w Pracowni to: instytucje naukowo-badawcze i naukowo-edukacyjne, ośrodki badawczo-rozwojowe i diagnostyczne w przemyśle, przedsiębiorstwa działające w sektorze zaawansowanych materiałów i nanotechnologii oraz instytucje zajmujące się upowszechnianiem wiedzy z tego zakresu.
APARATURA ZAKUPIONA W RAMACH PROJEKTU
L.p. | Nazwa | Krótki | Zdjęcie |
1 | Mikroskop polaryzacyjny wraz ze stolikiem obrotowym i tubusem do fotografii | Mikroskop ze stołem obrotowym skonstruowany wg wszelkich wymagań petrografii: nasadka okularowa z soczewkami Bertranda do obserwacji figur konoskopowych, tuba z analizatorem wyskalowana do pomiarów kątów polaryzacyjnych. Wbudowany statyw obrotowy, wyskalowany polaryzator, filtry wybielający i szary, okulary szerokokątne. | |
2 | Mikrowaga | Elektroniczna waga analityczna o parametrach: nośność maksymalna min. 100g, odczyt 0.01 mg. Adiustacja wewnętrzna oraz adiustacja automatyczna, możliwość zabezpieczenia hasłem dla kilku użytkowników. | |
3 | Analizator impedancji | Analizator umożliwiający pomiar m.in.: pojemności, tangensa kąta strat, przewodnictwa, indukcyjności, oporu; o parametrach: zakres częstości 20 Hz ÷ 2 MHz, wbudowane pole podkładu co najmniej: 1.5 i 2V, napięcie mierzące: 0.1mVrms÷ 10Vrms, wejście USB do zapisywania danych. |
ZAJĘCIA DYDAKTYCZNE PROWADZONE Z WYKORZYSTANIEM ZAKUPIONEJ APARATURY
L.p. | Nazwa | Nazwa | Kierunek |
1 | Mikroskop polaryzacyjny wraz ze stolikiem obrotowym i tubusem do fotografii | Pracownia Badań Materiałów I, | kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I stopień studiów, II rok |
2 | Mikrowaga | Pracownia Badań Materiałów II, | kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I stopień studiów, III rok |
3 | Analizator impedancji | Pracownia Badań Materiałów I, | kierunek: zaawansowane materiały i nanotechnologia, I stopień studiów, II rok |
II Pracownia Fizyczna cz. 1, | kierunek: fizyka, I stopień studiów, III rok | ||
II Pracownia Fizyczna cz. 2, | kierunek: fizyka, I stopień studiów, III rok |